Approfondimenti

La diffrazione dei raggi X

Una conferma dell'ipotesi di Bravais venne dagli studi sulla diffrazione dei raggi X svolti tra il 1912 e il 1913 dal tedesco M. von Laue (1879-1960) e dall'inglese W.H. Bragg (1862-1942). I raggi X possiedono una lunghezza d'onda poco diversa dalle dimensioni atomiche e dalle distanze tra gli atomi dei cristalli, che è di circa 10−8 cm; di conseguenza, quando essi colpiscono un cristallo, si possono registrare su una lastra fotografica ``spettri di diffrazione'' caratteristici, cioè si possono ottenere fotogrammi formati da tante macchie puntiformi, la cui disposizione regolare e simmetrica corrisponde alla disposizione regolare e simmetrica degli atomi nel cristallo.

L'esperimento di M. von Laue: i raggi X prodotti dal tubo e diffratti dalle lamina cristallina formano un'immagine caratteristica sulla lastra fotografica.